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上海析谱薄膜固体测量仪X3PCST透光率测试仪

简要描述:上海析谱薄膜固体测量仪X3PCST透光率测试仪性能特点:
1、PCST薄膜固体测试仪,采用了全新的光学平台,ARM芯片控制和处理数据,人机交互操作,仪器单机具有透射测试,吸光度测试。
2、专业测试固体样品、规格最小 φ1.0mm -500*500mm 厚度:0.01-100mm固体、护目镜、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、触屏行业、纺织、珠宝鉴定、真空镀膜等、单层、多层窗玻璃构件,光学性能的测定等

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-04-18
  • 访  问  量:1573
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名  称:薄膜固体测试仪

型  号:X3PCST

品  牌:上海析谱

 

上海析谱薄膜固体测量仪X3PCST透光率测试仪产品简介:

X3PCST透光率测试仪(薄膜固体测试仪)是专为薄膜、玻璃、珠宝、纺织、手机屏、液晶显示屏等制造行业设计的光谱测试仪。该仪器可以对手机屏、液晶显示屏进行定波长测试和光谱扫描,是质量监测的检测工具。

优势:固体、薄膜、玻璃或者亚克力等 特薄、特厚、特大的样品直接平放测试,方便快捷、测试数据更准确。

专业测试固体样品、规格 φ5.0mm -500*500mm  厚度:0.01-100mm固体、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、触屏行业、纺织、珠宝鉴定、真空镀膜等、单层、多层窗玻璃构件光学性能的测定等,仪器等级GB/T26798-2011 Ⅱ级.

开机自校;联PC操作端;软件版本win10 光谱分析家。

优势:固体、薄膜、玻璃或者亚克力等 特薄、特厚、特大的样品直接平放测试,方便快捷、测试数据更准确。

开机自校;联PC操作端;软件版本UV9.0 win10 64位。

上海析谱薄膜固体测量仪X3PCST透光率测试仪性能特点:

1、PCST薄膜固体测试仪,采用了全新的光学平台,ARM芯片控制和处理数据,人机交互操作,仪器单机具有透射测试,吸光度测试。 

2、专业测试固体样品、规格最小 φ1.0mm -500*500mm  厚度:0.01-100mm固体、护目镜、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、触屏行业、纺织、珠宝鉴定、真空镀膜等、单层、多层窗玻璃构件,光学性能的测定等。

3、进口环保型氘灯系统,有效减少您对臭氧的吸入;进口OSRAM钨灯座、OSRAM长寿命钨灯。

4、插座式氘灯和钨灯设计,能使您在换灯后免去光学调试的烦恼;

5、宽大的样品台,专业测试:特薄、特小、特厚、特大件!测试更方便、更准确、更效率、不再需要任何薄膜夹具,

6、强大的存储功能,能保存各种类型的数据;

薄膜固体测试仪技术参数:

产品型号

UV-2202PCST

X3PCST

光学系统

单光束 C T 光路结构 1600条/mm 高性能衍射光栅

光谱带宽

0.5/1/2/4nm

波长范围

190—1100 nm

325-1100nm

波长分辨率

0.1 nm 光学焦距200mm

数据显示

2*20液晶显示(标配UV win10 PC端)

波长精度

±0.3nm (实测0.3nm)±0.1nm(@656.1nmD2,)

波长重复性

≤0.2nm

杂散光

≤0.05%T

光度范围

0-200%T,-0.301-3.0A,0-9999C

光度精度

±0.002A(0-0.5A), ±0.3%T(0-100%T)

光度重复性

±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T)

电源

AC 90-240V

标配:薄膜固体测试仪壹台、应用软件壹套、应用数据线一套、随机资料一份